第一款 名詞定義
(a) 「ANL」係指芝加哥大學，依照 NO.W-31-109-ENG-38 號合約
乃是阿崗國家實驗室的營運機構。
(b) 「INER」----係指核能研究所，為中華民國內非營利之機構。
(c) 「CRIEPI」----係指中央電力產業研究所，為日本國內非營利
之機構。
(d) 「DOE」-----係指美國能源部。
(e) 「Contracting Officer」 係指美國能源部人員，主管能源部
與阿崗實驗室間之合約。
(f) 「Government」係指美國政府及所屬機關。
(g) 「Parties」 係指阿崗國家實驗室，核能研究所及中央電力產
業研究所。
第二款 工作目標
INER,ANL 與 CRIEPI 對於經放射線照射的敏化 304 不銹鋼材
料進行歐傑電子光譜分析工作。
第三款 工作項目
本計畫預定完成的工作項目分別列於本協議書的附錄Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ
。
第四款 計畫期限
本計畫的期限為自合約生效日期起 24 個月，得依本合約約定經
各方同意後終止或延展。
第五款 預算經費
(a) 參加各方將各自負擔完成自己工作項目的費用。
(b) 參加各方彼此間沒有經費的往來。
(c) ANL 在本計畫所進行的工作也屬於美國核能管制委員會委託的
“放射線對奧斯田系不銹鋼應力腐蝕的影響“計畫的一部分，
並由能源科技組負責進行。
第六款 工作保證
參加的各方將盡最大的努力完成計畫所列的目標，但不保證所列
的工作項目都能於計畫期限內全部完成。
第七款 責任歸屬
(a) CRIEPI 將提供如目錄Ⅰ所列，各種照射過及未照射的敏化 30
4 不銹鋼材料，並負責將上述材料運到美國伊利諾州芝加哥的
歐哈拉國際機場由 ANL 所指定的運送公司。同時 CRIEPI 將
提供所擁有關於材料的敏化情形、未照射前的化學組成、中子
照射量、及應力腐蝕的易感性等相關資料。
(b) INER 將提供如目錄Ⅱ所列，從運轉中的 BWR 電廠受損爐心
側板的裂縫處及熱感區切下的試片，並負責將上述材料運到美
國伊利諾州芝加哥的歐哈拉國際機場由 ANL 所指定的運送公
司。INER 亦將提供可能的化學組成、中子照射量、焊材種類
等試片的有關資料。
(C) ANL 負責完成附錄Ⅲ中的各項工作。所有的工作將在收到上述
(a) 及 (b) 所述的材料及數據後之一年內完成。但是如果
美國能源部認為有悠關美國公共利益，必需由 ANL 全力完成
的任務時，則前述的工作必須延後。如果有此情形發生時，參
與的各機構以及政府或人員，皆不須為工作的延遲負責。
(d) 在完成歐傑電子光譜分析及其他可能的分析後，ANL 負責放射
性物質的處理問題，不須將 INER 或 CRIEPI 提供的任何物品
退回。
第八款 協議書範圍
簽約各方都了解且同意，此一份協議書包含各方對合作計畫內容
的所有在先之協議，並取代以前所有的聲明、保證及協議。
第九款 計畫變更及延展
任何一方皆可提出延長計畫的建議，如經其他各方也同意得以書
面修改變更合約內容。
第一○款 損害賠償責任
(a) INER 及 CRIEPI 同意，如果 INER 、CRIEPI 或其代理人
由於使用 ANL 授權的研究成果、技術發展，或由 ANL 技
術衍生的產品的使用、買賣，造成的任何責任、要求、損害
、費用、訴訟費用支出和損失，ANL 或美國政府不負擔任何
責任，此約定在計畫結束或合約終止後仍然生效。
(b) 對本計畫所完成研發得到的有形及無形的研究成果，不論是
物品或無體財產權，依本約之資源加以製造或開發，或取得
所有權，商品責任之存在，或是供特殊目的而致之研究發明
或製造之產品，當事人間不負明示及默示責任及擔保，如因
此造成損害，本合約當事人及政府亦不負任何責任。
第一一款 結果與報告
(a) ANL 完成計畫的工作所產生的研究成果，將依本實驗室的營
運一者芝加哥大學，與美國能源部之間 W31-109-ENG-38 號
合約中的智慧財產權條款決定歸屬。INER 與 CRIEPI 對上
述的成果有無限制使用權。無限制使用權指可用任何的形式
，或任何的目的來使用，重複或發表全部或部分的數據，也
允許其他各方如此做。
(b) ANL 及美國政府也對 INER 及 CRIPEI 在此計畫中得到的成
果有無限使用權。無限制使用權指可用任何的形式，任何的
目的使用、重複或發表全部或部分的數據，也允許其他各方
如此做。
(C) INER、CRIEPI 和 ANL 同意在執行此計畫時將不提供或使
用任何具有專屬權利的資料。
(d) ANL 將在完成附錄Ⅲ中的各項工作，得到初步的數據結果後
，以書面報告傳達給 CRIEPI 及 INER 。ANL 保留將此報告
交給美國的核能管制委員會的權利。該會資助 ANL 的「放
射線對奧斯田系不銹鋼應力腐蝕的影響」的計畫，並提供 A
NL 在本次計畫工作的全部費用。
(e) 參與的各方將召開一次學術會議，討論本計畫所獲得得數據
，以及有關的資料及成果。
(f) INER、ANL 和 CRIEPI 將在附錄Ⅲ的工作完成後的合理的時
間內，以三方都認為公平的方式，將結果在學術會議及科學
期刊上提出及發表。
第一二款 協議書修正
對本協議書內容的任何修改，都必需由各方授權的代表，以書
面的方式提出，經過共同的同意才有效。
第一三款 疑義
有關本協議的解釋及施行，如有任何疑義，將由各方經由討論
後以友好的方式解決。

日本中央電力產業研究所代表
簽署人：武燕 町田〔簽字〕
------------------------
職銜： 江研究所副理事長，所長
------------------------
日期：1995 年 1 月 18 日
------------------------

核能研究所代表
簽署人：夏德鈺〔簽字〕
----------------------
職銜：所長
-----------------------
日期：1995 年 3 月 30 日
-----------------------

美國芝加哥大學
(阿岡國家實驗室運轉機構)
簽署人：Dennis Bugielski
---------------------
〔簽字〕
職銜：採購部經理
-----------------------
日期：1995 年 1 月 9 日

附錄Ⅰ
附錄Ⅰ描述 CRIEPI 在合作計畫中，將提供 ANL 照射過及未照射的敏化
304 不銹鋼材料種類及數量，詳述如下：
────────────────────────────────
試片編號 熱處理 中子照射量 數 說明
(CRIEPI 編號) (n/cm,E﹥1MeV) 量
────────────────────────────────
1 固溶－退火 未照射 2
2 (Z18) 固溶－退火 3.4×10 (19 次方) 1
3 熱敏化 未照射 2
4 (X6) 熱敏化 3.4×10 (19 次方) 1 在 0.01ppm
DO 或氬氣
中有沿晶斷
裂
────────────────────────────────
5 熱敏化 未照射 2
6 (V7) 熱敏化 4×10 (18 次方) 1 在 0.01ppm
DO 或氬氣
中有沿晶斷
裂
7 (V16) 熱敏化 8×10 (18 次方) 1 同上
8 (V39) 熱敏化 5×10 (19 次方) 1 同上
9 (V59) 熱敏化 1×10 (20 次方) 1 同上
10 (V33) 熱敏化，350 5×10 (19 次方) 1 RAH 極值
℃
回火 1 小時
11 (V63) 熱敏化，350 5×10 (19 次方) 1 RAH 極值
℃
回火 1 小時
────────────────────────────────
註一：試片 1 到 4 由同一塊材料製成，試片 5 到 11 由另一塊相似
材料製成。
註二：試片形狀大小略圖如下：

(編 註：附圖請參閱中外條約輯編第 11 編外交部 253 頁)

附錄Ⅱ
附錄Ⅱ描述INER 在合作計畫中，將提供 ANL BWR 電廠的受損爐心側板
的裂縫處及熱感區切下的試片的種類、尺寸及數量。
────────────────────────────────
試片編號 中子照射量 尺寸說明 數 說 明
(INER 編號) (E﹥1MeV) 量
────────────────────────────────
4.55×10 (19 BM/HAZ 11x(4-6)X1 1
次方)n/cm (2
次方)
4.55×10 (19 HAZ/FS 14x(3-5)X3 1 沿晶斷裂
次方)n/cm (2
次方)
────────────────────────────────
BM＝基材，HAZ＝熱感區，WD＝焊道，FS＝斷裂面

附錄Ⅲ
附錄Ⅲ記載 ANL 進行歐傑電子光譜分析的範疇，試片準備的要求，及分
析的程序。
1 範疇
ANL 會對 INER 及 CRIEPI 提供的，照射後 304 不銹鋼試片，利用歐
傑電子光譜儀分析，並對晶界上的微觀化學組成做重點的研究，詳如下
：
1.1 儀器：JOEL Model JAMP 10 屏蔽式掃瞄歐傑顯微鏡 (SAM)。
1.2 主要分析工作：
‧斷裂面的破損形態。
‧利用深度掃瞄法測量晶界上乏鉻形態的分布情形。
‧測量在晶界及其附近，Ni、Si、P 、S 、F 、V 、B 、N 及其他重
要微量元素含量的變化情形。
‧如有析出物則分析其化學組成。
2 試片大小形狀及化學組成的資料：
預定分析所需要的適當試片敘述如下：
2.1 爐心側板試片 (INER) ：
‧二片如附錄Ⅱ中記載，在側板裂縫處切下，包含有斷裂面、熱感應
區、基材及焊料等區域之試樣。
2.2 慢速伸試片 (CRIEPI) ：
‧附錄Ⅰ中的每一類材料，在拉伸試片拉斷後，由未變形的尾端切下
15mm×15mm 大小的分析試片各一片。
試片的化學組成及爐心側板試片的焊料種類都將告知 ANL。
3 分析程序：
充氫之試片在歐傑顯微鏡的超高真空環境中予以斷裂，以造成沿晶斷裂
及韌性斷裂的表面。試片在 100mg/1 NaAsO2 及 0.1N H2SO4 的溶液中
，在 60 ℃及 50mA/cm (2 次方) 的電流密度下，經過 48 小時的陽極
處理後，可達到所需要的充氫狀態。選定 5 到 10 處之沿晶或韌性斷
裂面後，利用歐傑電子光譜的訊號，在各區域的特定點進行連續的測量
及分析。在沿晶斷裂表面利用濺離法，測量晶界表面下內層乏鉻的分布
情形。典型的濺離程序是利用控制好流速的氬離子，撞擊表面數秒鐘，
將表面數層的原子撞離後的表面測量歐傑電子訊號 60 秒。整個程序皆
由電腦自動控制完成。
4 附加的場射鎗式精密電子分析顯微鏡分析
ANL 最先進的場射鎗式精密電子分析顯微鏡已開始使用。此 HB603-FEG
AAEM 的顯微鏡，具有現在世界最進步且獨一無二掃瞄穿透式顯微鏡及
歐傑電子分析儀的雙重功能，其場射鎗電子束的柱徑較一般研究放射線
促進應力腐蝕應常用的 HB501 型小 2.53 倍，使得其Ｘ－光能量光譜
的解析度較 HB501 型提高了十倍。
如果 ANL 認為 INER 及 CRIEPI 提供的試片合適時，ANL 將會在預定
的 JOEL JAMP 10 SAM 的分析外，再進行 HB603 FEG AAEM 的分析。
由於此項分析不是 ANL 對本計畫的承諾，而屬附加的，其實行與否將
視該儀器可空出的時間及試片的放射強度而決定。
4.1 穿透式顯微鏡的分析需要 3mm 直徑，0.25 到 0.3mm 厚的圓片，
每種材料二片。圖片在兩酮和酒精中用超音波震燙清洗後，貯裝在乾
淨的小玻璃瓶中。
4.2 分析項目：
‧晶界表面易導致剝離的，麻田散鐵或δ肥粒鐵薄膜的構造分析及確
認。
‧晶界乏鉻的分布情形，以與歐傑電子光譜的結果比較。
‧晶界附近，F 、V 、Ni、Si、P 、S 等微量元素含量的變化，以與
歐傑電子光譜的結果比較。
‧析出物的組成與構造。